ວິທີແກ້ໄຂການທົດສອບ R&D ແບັດເຕີຣີ
ອອກແບບມາເພື່ອການພັດທະນາແບັດເຕີຣີທີ່ທັນສະໄໝ, ລະບົບທົດສອບ Nebula R&D ໃຫ້ວົງຈອນການສາກ/ປ່ອຍປະຈຸຫຼາຍຊ່ອງທາງ, ຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ (ຄວາມຖືກຕ້ອງ 0.01%) ພ້ອມດ້ວຍຄວາມສາມາດໃນການຮັບຄວາມກົດດັນ ແລະ ແຮງດັນ/ອຸນຫະພູມ. ໂດຍອີງໃສ່ປະສົບການທີ່ສະສົມມາຕັ້ງແຕ່ປີ 2008 ໃນການທົດສອບສຳລັບ...
ເບິ່ງເພີ່ມເຕີມ
ວິທີແກ້ໄຂການບຳລຸງຮັກສາແບັດເຕີຣີ/ການຄວບຄຸມຄຸນນະພາບ
Nebula ສະໜອງວິທີແກ້ໄຂການທົດສອບທີ່ໃຊ້ໄດ້ຈິງ ແລະ ມີປະສິດທິພາບດ້ານຕົ້ນທຶນ ເຊິ່ງຖືກອອກແບບມາເປັນພິເສດສຳລັບຜູ້ຜະລິດແບັດເຕີຣີ OEM, ທີມງານຮັບປະກັນຄຸນນະພາບ ແລະ ການດຳເນີນງານບໍລິການຫຼັງການຂາຍ. ລະບົບໂມດູນຂອງພວກເຮົາຮອງຮັບການທົດສອບທີ່ບໍ່ທຳລາຍທີ່ສຳຄັນ (DCIR, OCV, HPPC) ແລະ ໄດ້ຮັບການສະໜັບສະໜູນຈາກຄວາມຊ່ຽວຊານຢ່າງກວ້າງຂວາງຂອງ Nebula ໃນການກວດສອບ...
ເບິ່ງເພີ່ມເຕີມ 
ສະຖານີທົດສອບ EOL ສຳລັບສາຍການຜະລິດ/ສາຍທົດລອງ/ສາຍຫຼັງການຂາຍ
ມີຕົ້ນກຳເນີດມາຈາກການທົດສອບປະສິດທິພາບຂອງແບັດເຕີຣີ, Nebula ໄດ້ພັດທະນາໄປສູ່ຜູ້ໃຫ້ບໍລິການຊັ້ນນຳດ້ານລະບົບການທົດສອບແບບ end-of-line (EOL) ທີ່ປະສົມປະສານເຂົ້າກັບສາຍການຜະລິດແບັດເຕີຣີໄດ້ຢ່າງລຽບງ່າຍ. ດ້ວຍຄວາມຊ່ຽວຊານຢ່າງເລິກເຊິ່ງທັງໃນວິທີການທົດສອບ ແລະ ວິສະວະກຳອັດຕະໂນມັດ, Nebula ເສີມສ້າງຄວາມເຂັ້ມແຂງໃຫ້ OEM ແລະ ຜູ້ຜະລິດແບັດເຕີຣີ...
ເບິ່ງເພີ່ມເຕີມ